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致茂Chroma 58620 激光半導(dǎo)體特性測(cè)試機(jī)

主要特色：

• 全自動(dòng)化檢測(cè)邊射型激光半導(dǎo)體芯片
• 高精密及高容量載具設(shè)計(jì)
• 自動(dòng)光纖耦合測(cè)試對(duì)位設(shè)計(jì)(Auto-alignment)
• AOI輔助定位，加速測(cè)試時(shí)間
• 共用載具設(shè)計(jì)可搭配燒機(jī)測(cè)試
• 高精密TEC溫度控制，穩(wěn)定度達(dá)0.01℃
• 搭配Chroma PXI-Base SMU/Power meter
• 軟體分析激光特性: 
  Ith，Rs，Vf，Slope Efficiency，λp等

激光二極管為高科技產(chǎn)品，價(jià)格不斐，多數(shù)使用于光通訊/ 醫(yī)療/ 國(guó)防等領(lǐng)域，并與人類社會(huì)息息相關(guān)。傳統(tǒng)的激光二極管因價(jià)格高昂，可靠性要求程度*，需要大量的人工與時(shí)間來進(jìn)行光路調(diào)整(Alignment) 測(cè)試與封裝后的檢測(cè)。

致茂58620 為一全新概念機(jī)種，專為激光二極管(Laser Diode) 所打造設(shè)計(jì)，搭配自動(dòng)化特性檢測(cè)All-In-One 設(shè)計(jì)概念，可供不同的測(cè)試項(xiàng)目同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)；搭配高容量的載具設(shè)計(jì)，可供多顆激光芯片(Chip level) 進(jìn)行大量測(cè)試；另外藉由光學(xué)定位輔助(AOI)，可提升自動(dòng)化檢測(cè)的速度與可靠性；高穩(wěn)定性的溫控平臺(tái)設(shè)計(jì)，可讓研發(fā)人員精確地了解激光二極管特性與溫度的關(guān)系。

共享載具

Chroma 58620 藉由多年在半導(dǎo)體IC 測(cè)試的經(jīng)驗(yàn)與技術(shù)，發(fā)展共享載具與更換治具等概念并應(yīng)用于激光二極管產(chǎn)業(yè)。傳統(tǒng)在激光二極管前段測(cè)試過程中，需經(jīng)過多次的老化測(cè)試(Burn-In) 與特性檢測(cè)制程(Characterization)，在更換載具的過程中常會(huì)損壞待測(cè)物減低良率，共享載具的好處可讓研發(fā)或操作員只需要在D一次將激光二極管放置于載具中，即可在不接觸待測(cè)物之下完成所有必要的檢測(cè)，此設(shè)計(jì)亦可搭配Chroma 58601 老化測(cè)試機(jī)。然而，激光二極管的形式(Form Factor) 于各家設(shè)計(jì)皆有所不同，而58620 更換治具(Change Kit) 的概念可符合世界上大多激光二極管的封裝形式進(jìn)行修改后即馬上可進(jìn)行量測(cè)，目前可使用的形式為 Chip on carrier， Chip on sub-mount，Laser-bar 等。

自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)與光學(xué)輔助定位

激光二極管有一大部分的應(yīng)用于光通訊與電信工業(yè)的范疇內(nèi)，如光收發(fā)器(Transceiver) 等產(chǎn)品在組裝前若能了解每顆激光二極管的特性或與直接測(cè)試光纖的耦合后的特性，能減低產(chǎn)品的失敗率。Chroma 58620 測(cè)試系統(tǒng)中含有自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)(Auto alignment)，可搭配不同種類的光纖與Focuser 進(jìn)行激光光大功率點(diǎn)耦合并測(cè)試，當(dāng)激光光達(dá)一定程度的耦合效率時(shí)，系統(tǒng)搭配光譜分析儀(OSA) 進(jìn)行分析了解激光二極管共振膜態(tài)，主次模比(Side Mode Suppression Ration) 以及波長(zhǎng)分析(Peek wavelength) 等；此外，利用光學(xué)輔助定位的原理(AOI) 使得Focuser 快速達(dá)到激光發(fā)光區(qū)(Emission Region) 并進(jìn)行搜尋大發(fā)射功率點(diǎn)可加速測(cè)試，大幅減低光纖耦合調(diào)校時(shí)間與測(cè)試人力。

▲自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)與光學(xué)輔助定位

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致茂Chroma 58620 激光半導(dǎo)體特性測(cè)試機(jī)