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致茂3760太陽能電池自動檢測及效率分級系統(tǒng) 適用于6吋單晶和多晶太陽能電池 在燒結(jié)爐出料端，藉由CCD 取像定位后，使用伯努力吸盤把電池片快速移載至傳送機構(gòu) 入料端暫存區(qū)設(shè)計，可以避免上下游設(shè)備保養(yǎng)停機

致茂Chroma 3813觸碰面板多點半自動測試機 可靠的觸碰面板測試機 適合數(shù)字式觸碰面板與模擬式觸碰面板 面板尺寸 : 6 inch x 3 sites or 12.1 inch x 1 sites 同時上料測試6個待測物 無測試面板壓壞的問題 精準(zhǔn)荷重 : 15g~1000g : 誤差≦±3g 可畫點、直線 （e.g. X, □）

致茂Chroma 3260C 三溫系統(tǒng)板測試分類機 可靠的高速Pick & Place分類機 同步吸嘴雙取與雙放設(shè)計 浮動頭可有效率平衡測試壓力 IC殘留檢測功能 通用治具設(shè)計 Nitro TEC主動式溫控技術(shù)導(dǎo)入 支援Full Range （-40°C~125°C） 測試溫度 更快速的升降溫反應(yīng)速度

致茂Chroma 3280Test-In-Tray 測試分類機 整合SD卡測試機與自動分類機功能 平行測試120個micro SD卡 Test-In-Tray UPH = 5400 （以70秒的測試時間為例） 支援SD卡資料通訊協(xié)定 支援DC參數(shù)量測功能 Microsoft Windows XP OS

致茂Chroma 3270微型 IC 測試分類機 適合 CMOS 影像感應(yīng)組件量產(chǎn)需求 可靠的高速 Pick&Place 分類機 3x3 mm 微型 IC 處理能力 浮動頭可有效率平衡測試壓力 自動測試壓力學(xué)習(xí) IC 殘留檢測功能