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德力AE1000系列 “戶戶通”光電網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀

更新時(shí)間:2020-08-11點(diǎn)擊次數(shù):1370

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德力1000系列戶戶通光電網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀

AE1000 系列產(chǎn)品是由 Deviser 公司于 2016 年底推出的掌上型多功能便攜式光電網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀,面向光纖射頻傳輸、光纖到戶的工程施工、部署、維護(hù)工作,分別采用自選功能集成,實(shí)現(xiàn)一臺(tái)儀器的全面測(cè)試。作為 Deviser 新一代產(chǎn)品,采用高集成、實(shí)時(shí)分析處理等新技術(shù),支持從 27dB 到 36dB 動(dòng)態(tài)范圍,雙波長和多波長的應(yīng)用,同時(shí)支持多種選件,具有優(yōu)異的測(cè)試性能和性價(jià)比。

 

功能特點(diǎn)
● 5 寸觸摸屏,800×480 點(diǎn)陣高分辨率;
● 緊湊的 Mini 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),更輕、更薄、更?。?/span>
● Y秀的短距特性,事件盲區(qū)小 0.8m,衰減盲區(qū)小 4m;
● 動(dòng)態(tài)范圍 27dB~36dB,支持百公里以上測(cè)試;
● *特色的數(shù)字場(chǎng)強(qiáng)儀選件,支持星座圖、MER、BER 測(cè)試,
與 OTDR 結(jié)合,專業(yè)支持光纖射頻傳輸網(wǎng)絡(luò)測(cè)試;
● 多種附件選擇,支持多種測(cè)試方案。支持可視化測(cè)試、光功率計(jì)、
光源及光纖顯微鏡、數(shù)字場(chǎng)強(qiáng)儀、線纜測(cè)試儀等;
● 齊全的用戶數(shù)據(jù)接口,支持 LAN、USB 等。


應(yīng)用
● FTTH(光纖到戶)網(wǎng)絡(luò)施工、部署、維護(hù)。
● RFoG(光纖射頻傳輸)網(wǎng)絡(luò)施工、部署、維護(hù)。

德力1000系列戶戶通光電網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀

 

型號(hào)詳解

 

型 號(hào)

AE1000A

名 稱

 

普及型 OTDR

功 能 配 置65dB (300kHz RBW)
特 征

<±1.0dB@+25±5℃ (典型值)

 
型 號(hào)

AE1000C

名 稱光網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀
功 能 配 置OTDR   OPM / VFL / LS 

 

特 征

 

 

單機(jī)解決,光網(wǎng)測(cè)試

 
型 號(hào)

AE1000AQ

 

名 稱

光電戶戶通

功 能 配 置

OTDR    QAM

特 征光電一體,路路暢通
 
型 號(hào)

AE1000AQT

名 稱光電網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀
功 能 配 置OTDR   QAM    TDR    OPM / VFL / LS

特 征

一機(jī)在手,掌控全局
 
型 號(hào)

AE1000CQT

名 稱

光電網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀

功 能 配 置

OTDR   QAM    TDR    OPM / VFL / LS

特 征

桌越性能,光電一體


 

光電網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀功能選配件列表

 

 

OTDR(光時(shí)域反射儀)

 

 

技術(shù)規(guī)格

 

AE1000A

AE1000AQ

AE1000AQT

波長 (nm)

 

1310/1550±20nm

動(dòng)態(tài)范圍 (dB)a29/27
事件盲區(qū) (m)b

≤ 2

衰減盲區(qū) (m)c

≤ 7

測(cè)距不確定性 d

AE1000A/AQ/AQT/B:±(0.75m+0.005%× 光纖長度 + 采樣分辨率)

AE1000C/D/S/P:±(0.75m+0.001%× 光纖長度 + 采樣分辨率)

接口USB2.0 ×1, USB 供電 DC5V±0.05V@500mA/RJ45×1, LAN,10M/100M

 

存儲(chǔ)

 

 

1GB 內(nèi)存(支持 10000 條 OTDR 曲線)、8GB SD 卡(支持 80000 條 OTDR 曲線)

電池

支持大 10 小時(shí)工作時(shí)間

尺寸 / 重量

 

179mm×144.7mm×54mm(不含包裝)/ 整機(jī):< 1kg

 

 

 

技術(shù)規(guī)格

AE1000B

 

波長 (nm)

 

1310/1550±20nm

動(dòng)態(tài)范圍 (dB)a33/31
事件盲區(qū) (m)b

≤ 1.5

衰減盲區(qū) (m)c

≤ 6

測(cè)距不確定性 d

AE1000A/AQ/AQT/B:±(0.75m+0.005%× 光纖長度 + 采樣分辨率)

AE1000C/D/S/P:±(0.75m+0.001%× 光纖長度 + 采樣分辨率)

接口USB2.0 ×1, USB 供電 DC5V±0.05V@500mA/RJ45×1, LAN,10M/100M

 

存儲(chǔ)

 

 

1GB 內(nèi)存(支持 10000 條 OTDR 曲線)、8GB SD 卡(支持 80000 條 OTDR 曲線)

電池

支持大 10 小時(shí)工作時(shí)間

尺寸 / 重量

 

179mm×144.7mm×54mm(不含包裝)/ 整機(jī):< 1kg

 

 

 

 

技術(shù)規(guī)格

 

AE1000C

AE1000CQT

 

波長 (nm)

 

1310/1550±20nm

動(dòng)態(tài)范圍 (dB)a36/34 
事件盲區(qū) (m)b

≤ 0.8

衰減盲區(qū) (m)c

≤ 4

測(cè)距不確定性 d

AE1000A/AQ/AQT/B:±(0.75m+0.005%× 光纖長度 + 采樣分辨率)

AE1000C/D/S/P:±(0.75m+0.001%× 光纖長度 + 采樣分辨率)

接口USB2.0 ×1, USB 供電 DC5V±0.05V@500mA/RJ45×1, LAN,10M/100M

 

存儲(chǔ)

 

 

1GB 內(nèi)存(支持 10000 條 OTDR 曲線)、8GB SD 卡(支持 80000 條 OTDR 曲線)

電池

支持大 10 小時(shí)工作時(shí)間

尺寸 / 重量

 

179mm×144.7mm×54mm(不含包裝)/ 整機(jī):< 1kg

 

 

技術(shù)規(guī)格

 

AE1000S

 

波長 (nm)

 

 

AE1000S-1625±20nm

AE1000S-1650±20nm

AE1000S-1490±20nm

AE1000S- 定制波長

動(dòng)態(tài)范圍 (dB)a35
事件盲區(qū) (m)b

≤ 0.8

衰減盲區(qū) (m)c

≤ 4

測(cè)距不確定性 d

AE1000A/AQ/AQT/B:±(0.75m+0.005%× 光纖長度 + 采樣分辨率)

AE1000C/D/S/P:±(0.75m+0.001%× 光纖長度 + 采樣分辨率)

接口USB2.0 ×1, USB 供電 DC5V±0.05V@500mA/RJ45×1, LAN,10M/100M

 

存儲(chǔ)

 

 

1GB 內(nèi)存(支持 10000 條 OTDR 曲線)、8GB SD 卡(支持 80000 條 OTDR 曲線)

電池

支持大 10 小時(shí)工作時(shí)間

尺寸 / 重量

 

179mm×144.7mm×54mm(不含包裝)/ 整機(jī):< 1kg

 

 

技術(shù)規(guī)格

 

AE1000P

 

波長 (nm)

 

 

P-1625: 1310/1550/1625 nm±20nm

P-1650: 1310/1550/1650 nm±20nm

P-1490: 1310/1550/1490 nm±20nm

動(dòng)態(tài)范圍 (dB)a34/32/32
事件盲區(qū) (m)b

≤ 0.8

衰減盲區(qū) (m)c

≤ 4

測(cè)距不確定性 d

AE1000A/AQ/AQT/B:±(0.75m+0.005%× 光纖長度 + 采樣分辨率)

AE1000C/D/S/P:±(0.75m+0.001%× 光纖長度 + 采樣分辨率)

接口USB2.0 ×1, USB 供電 DC5V±0.05V@500mA/RJ45×1, LAN,10M/100M

 

存儲(chǔ)

 

 

1GB 內(nèi)存(支持 10000 條 OTDR 曲線)、8GB SD 卡(支持 80000 條 OTDR 曲線)

電池

支持大 10 小時(shí)工作時(shí)間

尺寸 / 重量

 

179mm×144.7mm×54mm(不含包裝)/ 整機(jī):< 1kg

 

 

a. 測(cè)試條件: 25℃ ±5℃,20μs 脈寬,3 分鐘平均時(shí)間,起始后向散射至 SNR=1;

b. 測(cè)試條件: 25℃ ±5℃,5ns 脈寬,非飽和反射事件,5cm 距離分辨率;

c. 測(cè)試條件: 25℃ ±5℃,5ns 脈寬,非飽和反射事件,5cm 距離分辨率;